如何使用QQI試片和磁場指示器

美國磁通MAGNAFLUX如何使用QI試片和磁場指示器
本文將解釋定量品質(zhì)試片（QI）和磁場指示器的原理以及顯示標準人工缺陷的操作方法
定量品質(zhì)試片(QI)和磁場指示器都屬于ASTM E1444標準中所述用于校驗磁粉檢驗系統(tǒng)性能的帶有已知人工不連續(xù)的特制試件。在本文中, 我們將主要討論用定量品質(zhì)試片 (Q I試片)和磁場指示器驗證磁場的方向和強度的基本用途。
磁場強度和方向是成功進行磁粉探傷的關鍵因素。必須存在足夠的磁場, 以在被測工件的表面形成磁痕。由于磁場是有方向的, 只有與磁感應線交叉方向的不連續(xù)才會產(chǎn)生漏磁場并可能形成磁痕。
遺憾的是, 被測工件內(nèi)的磁場不能被直接測量。因此, 許多從業(yè)者使用帶人工缺陷的試件或試片來確認磁場強度是否足夠，同時, 通過人工缺陷可以確定磁場方向, 因為只有那些與磁感應線正交的缺陷能形成清晰磁痕。日常工作中常見的人工缺陷試片是 Q I 試片和磁場指示器。在選擇合適的探傷工具時, 需要考慮它們各自的優(yōu)缺點。
 
定量品質(zhì)試片 (Q I)

Q I試片 是帶有人工缺陷的薄鋼片, 使用時貼在被測工件表面, 通常用于驗證工件表面的場強和方向。Q I試片有若干種不同型號, 它是在薄鋼片表面蝕刻加工圓形和十字形細凹槽而制成, 可以提供各方向的磁場指示。制作試片的鋼材料成分和蝕刻凹槽尺寸, 按照AS 5371標準要求, 并設計為當被測工件被磁化至表面的切向磁場強度達到至少30奧斯特時可提供指示(磁痕)。試片可以貼合彎曲的工件表面, 一般使用性粘著劑貼在工件上。
Q I試片能有效的幫助設置針對具體工件的磁化參數(shù), 并可用于制作一個磁粉檢測設備系統(tǒng)性能日常檢查的示例工件。它對于復合磁場的設置和平衡是非常重要的, 因為它帶有環(huán)形缺陷, 可同時顯示各個方向的磁痕。
 
優(yōu)勢
薄，靈活度高, 可與不同形狀零件表面貼合
多個方向的人工缺陷, 以顯示縱向和周向磁場
為30奧斯特磁場磁化結果而設計的人工缺陷尺寸
圓形人工缺陷可用于復合磁場
 
缺點
使用permanent性粘著劑效果相對較好, 但粘貼后不能在它處再用
使用前必須*清潔試片和零件表面
易彎折, 在處理或使用過程中容易損壞
易受腐蝕和生銹
 
如何使用
使用前將Q I試片上的耐腐蝕膜取下。推薦使用溶劑如SKC-S、丙酮或粘合劑去除劑, Goof-Off或同類產(chǎn)品。在處理時小心, 以防損壞或彎折。必須將Q I試片 有刻槽的一面與被測工件表面緊密貼合。推薦使用permanent性粘著劑, 如氰基丙烯酸鹽粘合劑、Super Glue強力膠或同類產(chǎn)品。將Q I試片牢牢粘在零件表面, 不能有空隙或者松動的情況。Q I 粘貼好后, 不應有粘著劑殘留在檢測面上。透明膠帶, 如Scotch 191, 471, 或600系列, 也可用于粘貼 Q I試片。應注意膠帶只覆蓋 QI 試片的邊緣, 以確保中央缺陷區(qū)域是無障礙的。如果膠帶松動, 請將 Q I試片完整取下, 并進行清理和使用新膠帶重新粘貼。
 
磁場指示器

層壓磁場指示器, 也稱為 G 型Burmah-Castrol 試片, 由中間層的高導磁鐵片與上下層各0.002 英寸/0.05 毫米厚的黃銅片壓制構成。中間層鐵片上有三條不同寬度的縱槽, 在磁場中這些不連續(xù)可用以顯示線性磁痕。該試片通常與濕法非熒光磁粉配合用于磁探機和磁軛檢測, 但也可用于干磁粉。磁場指示器比 Q I試片 硬, 不易與曲面貼合。但與 Q I試片 不同的是, 磁場指示器不會貼在零件上, 因此可以在多個應用中重復使用。因為它只在一個方向上形成線性磁痕, 所以磁場指示器不適合用于復合磁化。
 
優(yōu)勢
不會permanent附著在工件表面
可用多個試片同時以不同方向放置,或一個試片先后以不同方向放置, 來確定正在檢測的曲面上的磁場方向,
不需要清潔或其他準備
黃銅表面防止腐蝕
 
缺點
靈活性較低, 不貼合曲面
僅一個方向的線形缺陷
不足以證明磁場強度
不適用于復合磁化
 
如何使用
將磁場指示器置于要檢測的區(qū)域中并貼緊被測工件表面?？捎檬种赴磯夯蚴褂谜澈蟿┗蚰z帶粘貼。膠帶不要覆蓋中心區(qū)域, 因為這會對形成磁痕造成影響。當磁場指示器的長邊與所施加的磁場方向垂直，在測試時能提供強的磁痕顯示。在磁場指示器固定好后, 開始激磁, 并施加磁粉 (磁懸液或干磁粉)。垂直于磁場方向的磁痕會比在其他角度上的磁痕更強、更明顯。如果磁場指示器與磁場方向平行, 則不會形成任何磁痕。
在使用磁場指示器時, 重要的一點是, 它只能用來演示磁場的方向, 而不是磁場強度。確定磁場強度需要有已知缺陷的工件, 或使用 Q I試片, 或使用經(jīng)校準的高斯計直接測量。有關使用 Q I試片 和磁場指示器的詳細說明, 請參閱ASTM E709,E1444和E3024.